Wafer CP probe card測試問題 - 工程師

(代妹妹PO)
不知道這個問題能不能在這個版PO,
就是本人的妹妹不知道為什麼要交Probe Card的作業(太忙了，反正就是幫他PO)，問題如
下：

Wafer CP probe card測試問題
1. 若是高溫測試是否有 normal的life time?
2. 高溫測試是否有需要注意的地方？例如清針次數、預熱時間、O/D值
3. 高溫測試是否會有沾黏wafer 的問題？
4. 高溫測試會影響Wafer的yield嗎？
5. 高溫測試會影響到open short嗎？

不知道各位年薪百萬能不能幫助她了解問題，或是說有什麼推薦的網路資源能幫他解答，
謝謝～

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