測試攔檢方式 - 工程師

請問各位高手
如果要監控產品的品質
例如bonding的好壞 可以看他每次的經度來建立SPC監測
但目前遇到一個困惑的地方
今天如果要監控品質
這產品是觸控產品
使用電測程式去進行測試
如要監控
因該是要看其測試的數據 去監控他的起伏
但其測試數值矩陣非常巨大
且有區域性其獨特性
有些位置特別低
有些特別高
那要如何監控他
因為沒有一個數值能夠代表整片
想請教各位 有何想法

例如 晶圓廠商要測試晶圓是否好壞 監控製程是否變異
是怎樣去測試IC的= =


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