晶片體質 - 工程師

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我都是作前端的前端, 趁此文章想請教此版各位高手.

1. 一般現場狀況是怎樣測試晶片到不到的了某個操作頻率?
會不會剛開始跑的到, 後來跑不到?

2. 一棵die 失敗, 占整顆chip的成本約多少?

※ 引述《FTICR (FT-ICR)》之銘言:
: 一片或一批 wafer 切出每片晶片一定體質有差,有些頻率可以跑比較高有些比較低
: Intel 也把保證可以跑到不同頻率的晶片標上不同型號來賣
: 不過像是蘋果的晶片,以 A9 為例,Wikipedia 寫設計頻率是 1.85 GHz
: 1. 這樣的話整批做出來的晶片,跑不到這頻率就算是不良品
: 2. 還是這些晶片可能拿去組裝比較低階的產品
: (像是可以跑到 1.85 GHz 用去組裝 iPhone 6s,1.5~1.8 GHz 用去 iPhone SE 或 iPad)
: 甚至不同地區銷售的 iPhone 因為價格不同,用的晶片等級可能會有差?
: (好像沒看過這樣的評測或新聞過)
: 我自己認為比較可能是選項1.,整批做出來是幾乎都可以跑在設計頻率以上,
: 不知道對不對?
: 是否有前輩可以分享這方面經驗? 感謝!

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All Comments

Olive avatarOlive2017-09-21
1. 那要 sampling 做加速老化測試
2. 不一定,看封裝型式,例如LCD driver IC (COF) 約佔 t
otal cost 的 30%
Genevieve avatarGenevieve2017-09-22
要測試頻率,業界的做法是埋一個專門測試頻率用的小晶圓
Caitlin avatarCaitlin2017-09-25
然後測試這個小晶圓通過的delay時間。
David avatarDavid2017-09-29
然後依據此delay時間,在與這顆ic真實能跑的頻率兩者相比
Kelly avatarKelly2017-10-01
就能過在CP測試平台測出跑不到標準頻率的die了。
Franklin avatarFranklin2017-10-03
因為每個產品die大小差太多,所以成本結構會完全不一樣。
Liam avatarLiam2017-10-07
Speed sensor
Freda avatarFreda2017-10-09
+DVFS
Suhail Hany avatarSuhail Hany2017-10-12
就DFT裡面的on speed test,google一下